~ 信頼性試験・評価と事例、ストレス要因と事例、加速試験、信頼性、安全性を左右するデータの活用法 ~
・故障物理の情報を活かし、安全性・信頼性を確保した設計に活かすための講座
・製品の故障や壊れ方を把握し、得られた情報の安全性・信頼性を確保した製品開発・設計に、効果的に活かそう!
~ 信頼性試験・評価と事例、ストレス要因と事例、加速試験、信頼性、安全性を左右するデータの活用法 ~
・故障物理の情報を活かし、安全性・信頼性を確保した設計に活かすための講座
・製品の故障や壊れ方を把握し、得られた情報の安全性・信頼性を確保した製品開発・設計に、効果的に活かそう!
市場で製品の事故や発火のニュースが見受けられる。新製品は軽薄短小/密閉化/多機能化/環境規制対策/コストダウン部材の採用、あるいは新技術の導入と変化するためいろいろな欠陥が内蔵されることになる。
しかし物の壊れ方は変わらないので培われた故障物理の情報を如何に設計に活かすかということになる。
したがって製品が壊れることによって発生するこれらの事象は、信頼性と安全性を一体化して考える必要がある。
本セミナーでは物の壊れ方について把握し、事故や発火に対する試験/評価の実施の仕方、そこで得られる情報を開発/設計に活かす方法について説明する。
開催日時 |
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開催場所 | 日本テクノセンター研修室 | |
カテゴリー | 電気・機械・メカトロ・設備 | |
受講対象者 |
・新製品開発設計の信頼性/安全性向上に取り組んでおられる方 ・信頼性/安全性データの整備をされている方 ・製品の事故/発火対策を担当されている方 |
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予備知識 |
・特に必要としません、基礎からわかりやすく解説します |
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修得知識 |
・製品の壊れ方を知る ・製品開発設計において信頼性・安全性を確保する |
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プログラム |
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キーワード | 信頼性 安全性 信頼性試験 ライフエンド事故 加速試験 故障メカニズム 故障のストレス要因 信頼性データ | |
タグ | 精密機器・情報機器、ワイヤレス給電、医療機器、基板・LSI設計、計測器、実装、設備、電気、電源・インバータ・コンバータ、電子機器、電子部品、電装品、電池、非接触充電、LED・有機EL・照明 | |
受講料 |
一般 (1名):49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名):44,000円(税込) |
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会場 |
日本テクノセンター研修室〒 163-0722 東京都新宿区西新宿2-7-1 新宿第一生命ビルディング(22階)- JR「新宿駅」西口から徒歩10分 - 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分 - 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分 電話番号 : 03-5322-5888 FAX : 03-5322-5666 |
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営業時間 月~金:9:00~17:00 / 定休日:土日・祝日