良品率向上のための異物分析の基礎とデータの活用法

~ 異物発生原因、分析解析の流れ、分析装置とその事例、データ解析および考察 ~

・異物の微細化・構成元素/組成の複雑化にともない、高分析・対応が求められる異物分析技術を修得するための講座
・異物、汚染の発生メカニズム、分析装置の特徴、最適な分析方法の選択、取得データの扱い方・考察方法を修得し、良品率の向上に活かそう!

講師の言葉

昨今、製品の軽薄短小にともない、異物自体も微細化している。また製品の素材構成も複雑になり、異物、汚染物の構成元素/組成も複雑になり、分析、および対応策のレベルを上げているのが現状である。
不具合の根本原因は、凡そ、材料であり、それを構成する分子、原子、および電子の挙動が根底にある。その視点と知見を礎に積み上げ、マクロに見える不具合を観察し分析することで、解析および考察に深みが出てくる。
本セミナーにより、異物、汚染の発生メカニズム、分析装置の特徴、最適な分析方法の選択、そして取得したデータの扱い方や考察の方法を修得することで、少しでも良品率の向上にお役に立てれば幸いです。

セミナー詳細

開催日時
  • 2019年11月14日(木) 10:30 ~ 17:30
開催場所 日本テクノセンター研修室
カテゴリー 化学・環境・異物対策
受講対象者 ・基礎研究者、研究開発者、分析技術者、生産技術者、製造技術者、品質保証関係者、工場関係者
予備知識 ・異物対策に携わっていると理解が深まります
修得知識 ・各素材の知識
・分析装置の特徴
・分析手法
・考察解析の仕方
・異物発生原因
・素材、分析に関わる基礎理論
プログラム

1.異物発生原因
  (1). 製品素材起因
  (2). 製造ライン起因
  (3). 梱包材起因
  (4). 人員起因

2.必要な知見と専門性
  (1). 無機化学
  (2). 有機化学
  (3). 物理化学
  (4). 分子、原子、電子の挙動

3.分析解析の流れ
  (1). 分析の目的
  (2). サンプル採取
  (3). 前処理
  (4). 分析装置へ導入
  (5). データ解析

4.分析装置、およびその事例
  (1). 前処理装置
      a. マニピュレータ
      b. ミクロトーム
      c. 研磨
      d. クロスセクションポリッシャー
      e. FIB
  (2). 分析装置
      a. FT-IR
      b. ラマン
      c. EDX
      d. EPMA
      e. EBSD
      f. AES
      g. XPS
      h. TOF-SIMS
      i. GC-MS
      j. LC-MS
      k. LSM
      l. SEM
      m. STEM
      n. TEM
      o. TEM-EELS

5.良品率向上に活かすためのデータ解析
  (1). 材料の知見
  (2). 分子挙動
  (3). 数値解析(統計解析)

キーワード 異物 FT-IR ラマン EDX EPMA TOF-SIMS GC-MS SEM TEM
タグ ポリマー化学物質
受講料 一般 (1名):49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名):44,000円(税込)
会場
日本テクノセンター研修室
〒 163-0722 東京都新宿区西新宿2-7-1 小田急第一生命ビル(22階)
- JR「新宿駅」西口から徒歩10分
- 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分
- 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分
電話番号 : 03-5322-5888
FAX : 03-5322-5666
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