～ 異物発生原因、分析解析の流れ、分析装置とその事例、データ解析および考察 ～
・異物の微細化・構成元素／組成の複雑化にともない、高分析・対応が求められる異物分析技術を修得するための講座
・異物、汚染の発生メカニズム、分析装置の特徴、最適な分析方法の選択、取得データの扱い方・考察方法を修得し、良品率の向上に活かそう！
良品率向上のための異物分析の基礎とデータの活用法
講師の言葉
昨今、製品の軽薄短小にともない、異物自体も微細化している。また製品の素材構成も複雑になり、異物、汚染物の構成元素/組成も複雑になり、分析、および対応策のレベルを上げているのが現状である。
不具合の根本原因は、凡そ、材料であり、それを構成する分子、原子、および電子の挙動が根底にある。その視点と知見を礎に積み上げ、マクロに見える不具合を観察し分析することで、解析および考察に深みが出てくる。
本セミナーにより、異物、汚染の発生メカニズム、分析装置の特徴、最適な分析方法の選択、そして取得したデータの扱い方や考察の方法を修得することで、少しでも良品率の向上にお役に立てれば幸いです。
セミナー詳細
| 開催日時 |
|
|---|---|
| 開催場所 | 日本テクノセンター研修室 |
| カテゴリー | 化学・環境・異物対策 |
| 受講対象者 | ・基礎研究者、研究開発者、分析技術者、生産技術者、製造技術者、品質保証関係者、工場関係者 |
| 予備知識 | ・異物対策に携わっていると理解が深まります |
| 修得知識 |
・各素材の知識 ・分析装置の特徴 ・分析手法 ・考察解析の仕方 ・異物発生原因 ・素材、分析に関わる基礎理論 |
| プログラム |
１．異物発生原因 ２．必要な知見と専門性 ３．分析解析の流れ ４．分析装置、およびその事例 ５．良品率向上に活かすためのデータ解析 |
| キーワード | 異物 ＦＴ-ＩＲ ラマン EDX ＥＰＭＡ ＴＯＦ-ＳＩＭＳ ＧＣ-ＭＳ ＳＥＭ ＴＥＭ |
| タグ | ポリマー、化学物質 |
| 受講料 |
一般 (1名)：49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名)：44,000円(税込) |
| 会場 |
日本テクノセンター研修室〒 163-0722 東京都新宿区西新宿２－７－１ 新宿第一生命ビルディング（２２階）- JR「新宿駅」西口から徒歩10分 - 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分 - 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分 電話番号 : 03-5322-5888 FAX : 03-5322-5666 |
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