～ 電子機器の故障要因と製品保証のための信頼性評価、およびロックイン発熱解析による故障解析への考え方 ～
・電子機器における“真”の故障原因を正確に突き止め、機器の故障をなくすための講座
・主要な故障メカニズムと事例を基に故障解析技術を修得し、適切な対応へ活かそう！
電子機器の信頼性向上と故障原因究明方法 および適切な対応
講師の言葉
品質に係わる技術者が最も頭を悩ます問題が市場故障の対応である。この問題を解決するためには故障モードからの推定と故障解析であるが、経験の乏しい技術者には負担の大きい業務である。市場故障がなぜ起こるか？長期の受託解析の経験からは一般の技術者が考える概念と異なる原因が多い。
本セミナーでは主要な故障メカニズムを事例と原理的な面から説明する。また、電子機器の故障解析はロックイン発熱解析により比較的容易に解析ができるようになり、今後、多くの方が利用する方法と考えられる。また、故障を低減するための信頼性の作り込みにも触れる。
本セミナーは会場が変更になりました（東京・西新宿 → 竹橋）
セミナー詳細
| 開催日時 |
|
|---|---|
| 開催場所 | ちよだプラットフォームスクウェア ５階 501号室 |
| カテゴリー | 電気・機械・メカトロ・設備 |
| 受講対象者 | ・電子機器・電子部品メーカの信頼性、品質関連の技術者。初学者にもわかるように説明する |
| 予備知識 | ・電子機器・部品の故障に関心があれば理解が深まります |
| 修得知識 | ・市場故障の原因や解析法を理解し、適切な対応が取れるための知識 |
| プログラム |
１． 市場故障を起こす“真”の問題 ２．故障原因究明方法 |
| キーワード |
市場故障 故障要因 故障モード ＥＳＤ ラッチアップ ＥＯＳ 故障原因究明 ロックイン発熱解析 故障解析 |
| タグ | 信頼性試験・故障解析、品質管理、電子機器、電子部品 |
| 受講料 |
一般 (1名)：49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名)：44,000円(税込) |
| 会場 |
ちよだプラットフォームスクウェア ５階 501号室ちよだプラットフォームスクウェア住所: 〒 東京都千代田区神田錦町3‐21 電話番号 : 03-3233-1511 FAX : |
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