信頼性向上に活かすためのLEDの故障・劣化と寿命予測技術および標準化規格

~ LED・LEDモジュールの信頼性試験・寿命予測方法、測定における注意点および規格の標準化の最新動向 ~

・機器の要求性能に合った信頼性を確保し、高品質なLEDを製品に採用するための講座
・従来の光源とは故障や寿命評価方法が異なるLEDの測定・試験技術を修得し、長寿命化に活かそう!

講師の言葉

 現在LEDの用途としてはLED照明器具をはじめあらゆるところで使用されています。本セミナーにおいてはLED固有の特性及び信頼性、寿命についてわかりやすく解説いたします。
 特に照明においては半導体であるLEDを採用している為、故障及び寿命の評価方法が従来光源と異なります。LED及びLEDモジュールを主体とし、主に試験方法及び標準化されてきた規格関連を重点に説明します。

セミナー詳細

開催日時
  • 2019年03月27日(水) 10:30 ~ 17:30
開催場所 日本テクノセンター研修室
カテゴリー 電気・機械・メカトロ・設備
受講対象者 ・LEDを使用するユーザーの方で、その寿命予測・信頼性向上に関心のある方
・LEDの開発、設計等に関わる方
・LED用材料の研究開発に関わる方
・今後、LEDの採用を検討されている方
(LED、LEDモジュールに携わる、または今後携わる予定の方で、電子機器、情報機器、機械、照明などの研究開発、設計、信頼性保証に関わる方、またはLED用材料の研究開発に関わる方)
予備知識 ・実務でLEDに関わっていると深く理解できます
修得知識 ・LEDの基礎
・LEDの測定方法
・LEDの具体的故障例
・LEDの寿命試験と寿命予測技術
・LEDにおける寿命評価標準化の最新動向
プログラム

1. LEDの基礎と測定方法
  (1).LEDとは
  (2).LEDの歴史
  (3).LEDの発光原理
  (4).LEDの発光色
  (5).LEDの基本特性
  (6).LEDのパッケージと実装方法
  (7).蛍光体

2. LEDの測定
  (1).電気的な測定
  (2).光の測定
  (3).LEDの測定項目

3. LEDの測定に必要な機能
  (1).光特性の測定(光量の測定)
  (2).光度測定(CIE127)
  (3).全光束測定機材
  (4).光特性の測定(波長特性)
  (5).光測定の精度について
  (6).LED照明器具の測定
  (7).測定における留意点(コンタクト関連)

4. 信頼性を確保する為の測定(LEDモジュール等)
  (1).LEDの故障・劣化・不良とは(一般的なLEDの故障・劣化・不良)
  (2).静電気による劣化測定・耐静電気測定 (リーク測定)
  (3).サイリスター特性測定
  (4).熱抵抗測定

5. 信頼性試験(エージング、シーズニング)
  (1).必要性
  (2).信頼性を高め、品質を確保する手法
  (3).信頼性とは
  (4).LEDの故障と劣化要因
  (5).LEDの故障、劣化の例

6. LEDの寿命予測と規格
  (1).LEDの寿命評価に関する標準化の動き
  (2).LED寿命の定義
  (3).米国IES規格LM-79-08、LM-85-14、LM-80-08、LM-80-15
  (4).LM-79-08の概要
      a.試験条件の概要
      b.試験報告
  (5).LM-80-08の概要
  (6).寿命予測(TM-21-11で予測されるL70予測法)

7. 照明全体での要求事項(Energy Star資料)
  (1).照明器具システム全体の信頼性
  (2).Energy Starが要求する光束維持品質
  (3).8種類の基準色の色度座標上での定義
  (4).照明器具の色に関するEnergy Star要求条件

8 LED光源の寿命予測方法(TM-21-11)
  (1).光出力(光束)の寿命の定義
  (2).サンプル(DUT:Device Under Test)数
  (3).光出力(光束)データの収集
  (4).光出力(光束)維持寿命予測

9.IES規格LM-85-14主な変更点
  (1).対象デバイス(DUT)
  (2).主な変更点(温度管理の強化)
  (3).温度管理方法としての2つの方法
  (4).LM-85-14における報告書(パルス印加の例)
  (5).参考資料:パルス印加の測定結果

10.新規格LM-80-15
  (1).概要
  (2).適応範囲(Scope)
  (3).引用規格(Normal Reference)
  (4).定義(Definitions)
  (5).物理的及び環境的条件(Physical and Enviroment Conditions)
  (6).電気的条件(Electrical Conditions)
  (7).DC電圧駆動(DC Constant Voltage Drive)
  (8).AC定電圧駆動(AC Constant Voltage Drive)
  (9).測光及び電気的測定手順(Photometric and Electrical measurement Procedure)
  (10).維持試験手順(Maintenance TestProceeding)
  (11).試験報告書(Test Report)
  (12).報告書例

11. 信頼性用語解説
  (1).活性化エネルギー
  (2).ボルツマン定数
  (3).アレニウスの式
  (4).アイリングモデル
  (5).ワイプル分布

12. 信頼性関連の規格
  (1). JIS規格
  (2).国際照明委員会(CIE規格)
  (3).米国IES規格
  (4).JEITA・(EIA)・・・信頼性試験規格
  (5).EIA/JEDEC JESD51・・・熱測定規格(LED関連)
  (6).国内外における他の規格
  (7).国際的な規格の動向

13. 光の測定項目原理
  (1).光の測定項目原理(概要)
      a.量(Quantity)
      b.質(Characteristics,Quality)
      c.配光測定
      d.光の測定における単位:Unit
      e.補足事項-1(色と表示方)
      f.補足事項-2(規格等)
  (2).演色性(Cplor rending Properties)の評価
      a.蛍光灯、昼白色蛍光灯、LED電球の比較
      b.演色性(Color rending)の評価
      c.色温度(Color temperature)
      d.演色性の計算
      e.特殊演色性評価数R9について
  (3).新IES規格の動向(TM-30-15)
      a 現在の演色性評価方法と新演色性評価方法の違い
      b.今後の展開

14. 測定における留意点(コンタクト関連)
  (1).4線式接続(Kelvinコンタクト)
  (2).コンタクト
  (3).コンタクト状態の確認方法
      a.コンタクト状態の確認
      b.ハンドラー等における確認方法
      c.プローバにおける確認方法
      d.ニードル針跡確認方法
  (4).光度の測定における留意点
  (5).まとめ
  (6).参考資料

キーワード LEDパッケージ LEDテスター エージング シーズニング LED寿命 LED LM-79-08 LM-80-08 TM-21-11 LM-80-15 
タグ 信頼性試験・故障解析LED・有機EL・照明
受講料 一般 (1名):49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名):44,000円(税込)
会場
日本テクノセンター研修室
〒 163-0722 東京都新宿区西新宿2-7-1 小田急第一生命ビル(22階)
- JR「新宿駅」西口から徒歩10分
- 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分
- 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分
電話番号 : 03-5322-5888
FAX : 03-5322-5666
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