~ LED・LEDモジュールの信頼性試験・寿命予測方法、測定における注意点および規格の標準化の最新動向 ~
・機器の要求性能に合った信頼性を確保し、高品質なLEDを製品に採用するための講座
・従来の光源とは故障や寿命評価方法が異なるLEDの測定・試験技術を修得し、長寿命化に活かそう!
~ LED・LEDモジュールの信頼性試験・寿命予測方法、測定における注意点および規格の標準化の最新動向 ~
・機器の要求性能に合った信頼性を確保し、高品質なLEDを製品に採用するための講座
・従来の光源とは故障や寿命評価方法が異なるLEDの測定・試験技術を修得し、長寿命化に活かそう!
現在LEDの用途としてはLED照明器具をはじめあらゆるところで使用されています。本セミナーにおいてはLED固有の特性及び信頼性、寿命についてわかりやすく解説いたします。
特に照明においては半導体であるLEDを採用している為、故障及び寿命の評価方法が従来光源と異なります。LED及びLEDモジュールを主体とし、主に試験方法及び標準化されてきた規格関連を重点に説明します。
開催日時 |
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開催場所 | 日本テクノセンター研修室 |
カテゴリー | 電気・機械・メカトロ・設備 |
受講対象者 |
・LEDを使用するユーザーの方で、その寿命予測・信頼性向上に関心のある方 ・LEDの開発、設計等に関わる方 ・LED用材料の研究開発に関わる方 ・今後、LEDの採用を検討されている方 (LED、LEDモジュールに携わる、または今後携わる予定の方で、電子機器、情報機器、機械、照明などの研究開発、設計、信頼性保証に関わる方、またはLED用材料の研究開発に関わる方) |
予備知識 | ・実務でLEDに関わっていると深く理解できます |
修得知識 |
・LEDの基礎 ・LEDの測定方法 ・LEDの具体的故障例 ・LEDの寿命試験と寿命予測技術 ・LEDにおける寿命評価標準化の最新動向 |
プログラム |
1. LEDの基礎と測定方法 2. LEDの測定 3. LEDの測定に必要な機能 4. 信頼性を確保する為の測定(LEDモジュール等) 5. 信頼性試験(エージング、シーズニング) 6. LEDの寿命予測と規格 7. 照明全体での要求事項(Energy Star資料) 8 LED光源の寿命予測方法(TM-21-11) 9.IES規格LM-85-14主な変更点 10.新規格LM-80-15 11. 信頼性用語解説 12. 信頼性関連の規格 13. 光の測定項目原理 14. 測定における留意点(コンタクト関連) |
キーワード |
LEDパッケージ LEDテスター エージング シーズニング LED寿命 LED LM-79-08 LM-80-08 TM-21-11 LM-80-15 |
タグ | 信頼性試験・故障解析、LED・有機EL・照明 |
受講料 |
一般 (1名):49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名):44,000円(税込) |
会場 |
日本テクノセンター研修室〒 163-0722 東京都新宿区西新宿2-7-1 新宿第一生命ビルディング(22階)- JR「新宿駅」西口から徒歩10分 - 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分 - 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分 電話番号 : 03-5322-5888 FAX : 03-5322-5666 |
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営業時間 月~金:9:00~17:00 / 定休日:土日・祝日