赤外線分光法(FTIR)の基礎と異物分析技術およびそのポイント

〜 赤外線分光法の基本原理と特徴、代表的な測定法、定量分析技術、異物分析のコツ、分析法と応用・例 〜   

・よりアプリケーション寄りの内容で赤外線分光法の活用を中心とした測定技術やノウハウが修得できる講座

・FTIRの基本、スペクトル解析から、異物分析の実践まで、実例を交えた詳細な解説により、実務にすぐフィードバックできる特別セミナー!

講師の言葉

 赤外分光法は、その特徴からも主に有機化合物の化学構造や高次構造の解析手段として研究、開発され、今日では研究・開発だけでなく工場でのインライン評価などにも幅広く一般に使用されている。
 近年になって、ATR法を初めとした様々な測定法の開発や装置の改良等によって、従来困難であったような試料も容易に測定が可能となり、今日においてはなくてはならない基本的な測定手法としてその地位を確立している。
 しかし、実際のサンプルや問題に直面した場合、どのように測定・解析を行っていけば良いかは依然重要である。しかし残念ながら、文献・教科書等では装置や測定法の原理は詳細に解説してあるものが多いが、そのアプリケーションとしての解説を十分に行っているものは少ない。
 本講座は、赤外分光法の詳細で専門的な原理ではなく、よりアプリケーション寄りの内容、実務での赤外分光法活用を中心とした、実際の分析操作やスペクトルの解釈、実際の分析において対象とすることの多い異物や混合物、様々な試料や目的への対応の方法、事例などについて、実務使用における測定技術や応用技術、ノウハウを解説する。

本セミナーは受付を終了しました

セミナー詳細

開催日時
  • 2018年06月19日(火) 10:30 ~ 17:30
開催場所 日本テクノセンター研修室
カテゴリー 化学・環境・異物対策
受講対象者 ・分析部門、開発部門、品質保証部門、製造部門等の担当者、責任者
予備知識 ・特に必要としません、基礎からわかりやすく解説します
修得知識 ・FTIRの基礎 ・スペクトル解析技術 ・サンプリングの基本とコツ ・異物分析技術
プログラム

1.赤外分光法の基本原理と特徴について
  (1).赤外分光が見ているもの
  (2).分光分析における吸収の定義
  (3).赤外分光の波長領域
  (4).振動モード
  (5).気体と液体・固体 (H2O)
  (6).赤外分光法の長所・短所
  (7).主な検出器と特性

2.代表的な測定法
  (1).透過法
  (2).全反射法(ATR)
  (3).反射法
  (4).拡散反射法
  (5).主な測定法のまとめ
  (6).顕微赤外
    

3.赤外スペクトルの概要
  (1).赤外スペクトルの概要
  (2).主な振動モード
  (3).主な吸収帯
  (4).主な有機系官能基の吸収帯
  (5).周辺環境の影響
  (6).イオン性官能基の吸収帯
  (7).赤外分光の構造敏感性
  (8).指紋領域の利用
  (9).カルボニル基の判別
  (10).スペクトルサーチ
  (11).スペクトルデータベース
  (12).ヒットスコアの罠
  (13).検索結果の間違い例
  (14).スペクトルサーチのコツ
  (15).差スペクトル
  (16).混合解析
  (17).系統分析
  (18).帰属の考え方
  (19).ラマン分光法との対比

4.定量分析技術
  (1).大気成分補正
  (2).測定条件
  (3).スペクトル処理
  (4).混合物の解析
  (5).異物・微小部
  (6).その他の方法
  (7).黒色試料
  (8).ATR法、PAS法
  (9).高次構造
  (10).結晶解析
  (11).融解
  (12).FTIRにおける注意点

5.解析(分析と測定法)
  (1).フィルム上汚染
  (2).標準スペクトルとの比較
  (3).ポリイミドの表面処理層の深さ方向分析
  (4).精密斜め切削法

6.異物分析技術
  (1).サンプリング前の観察
  (2).異物の観察
  (3).サンプリングの基本とコツ
  (4).顕微ATR転写法
  (5).支点をつくる
  (6).高さ合わせ
  (7).作業時の試料固定
  (8).試料の切り出し
  (9).サンプリング後の測定

7.分析法と応用・例
  (1).Al基板上のシミ分析
  (2).顕微赤外を用いたPPフィルム中異物の分析
  (3).マイクロサンプリング法による測定
  (4).基板上の付着物の分析
  (5).フィルム上の付着物の分析
  (6).付着物のマススペクトル
  (7).塗膜ハジキの分析
  (8).LCDのTFT基板上の欠陥分析
  (9).マイクロ抽出法による分離分析
  (10).薬液中の浮遊物の分析
  (11).分析時にける注意点とポイント

 

8.まとめと質疑応答

キーワード FTIR 赤外分光 異物分析 サンプリング スペクトル解析 スペクトル同定
タグ 分析化学物質検査信頼性試験・故障解析品質管理
受講料 一般 (1名):49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名):44,000円(税込)
会場
日本テクノセンター研修室
〒 163-0722 東京都新宿区西新宿2-7-1 新宿第一生命ビルディング(22階)
- JR「新宿駅」西口から徒歩10分
- 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分
- 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分
電話番号 : 03-5322-5888
FAX : 03-5322-5666
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