静電気障害のメカニズムと設計への活かし方および静電気障害対策・例

〜 静電気障害・放電モデル、発生原因究明調査方法および対策事例 〜

・半導体集積回路における長年の課題、「静電気破壊」について基礎から対策まで体系的に学べる講座

・静電気障害を未然に防止し、半導体集積回路(デバイス)の高信頼性確保を実現するためのセミナー!

講師の言葉

半導体集積回路(デバイス)では市場故障の発生原因の多くは、今も昔も、約30%から40%が静電破壊に分類されています。半導体デバイスを供給する側、或いは、使用する側、双方の品質保証担当者にとって、静電破壊の問題は、悩み続けてきたテーマです。

本セミナーでは、デバイスを作る側、使用する側、双方の立場で経験してきた知見を分りやすく解説します。

セミナー詳細

開催日時
  • 2018年01月18日(木) 10:30 ~ 17:30
開催場所
カテゴリー 電気・機械・メカトロ・設備
受講対象者 ・半導体集積回路の設計者、品質保証担当者、半導体ユーザー側の品質保証担当者、組立工程の静電気対策を管理している担当者など
予備知識 ・静電気障害の問題に携わっていると理解が深まります
修得知識 ・デバイスの静電気保護に関するデバイス側の対策とユーザー側の対策、それぞれの考え方を理解できると思います
プログラム

1 .静電気現象

  (1). 静電気とは

  (2). 静電気の発生原因

  (3). 摩擦帯電と誘導帯電、および静電気放電

2.電子部品の静電気障害と放電モデル

  (1). 静電気障害の分類

  (2). 人体モデル(HBM)の典型例と等価回路および障害例

  (3). デバイス帯電モデル(CDM)の典型例と等価回路および障害例

  (4). 電子機器の静電気放電による誤動作の典型例と等価回路および障害例

3. 電子部品の静電気試験方法

  (1). 静電破壊とラッチアップ

  (2). 静電破壊とラッチアップ耐性の試験方法

  (3). 静電破壊とラッチアップの試験規格

  (4). システムの静電破壊・ノイズ誤動作試験規格

  (5). 部品単体の試験とシステムレベル試験の比較

4. 静電気保護回路と設計手法

  (1). デバイスの構造と静電破壊

  (2). 静電気保護回路とは

  (3). 静電気保護回路とラッチアップ保護回路

  (4). 保護回路の設計手法

  (5). サージ防護デバイスを用いた保護手法

5. 対策事例(回路設計編)

  (1). 静電気障害対策事例

  (2). ノイズ誤動作(ラッチアップ)対策事例

6. 回路基板組立工程での静電気障害

  (1). 人体の帯電

  (2). デバイスのHBM耐性

  (3). 身近な静電気と対策

7. 静電気障害発生原因の調査方法

  (1). 静電気保護エリア(EPA)の構成

  (2). 静電気トラブル対策の流れ

  (3). トラブル調査に使用する機器と特徴

  (4). 静電気測定の理解(演習問題と解説)

8. 静電気障害対策アイテム

  (1). 静電破壊現象と試験モデル

  (2). 人体モデルとCDMモデルの対策

  (3). 組立工程の静電気対策アイテム

  (4). イオナイザーの特徴

9. 対策事例(製造工程編)

  (1). イオナイザーの効果が不十分な例

  (2). イオナイザーの設置箇所が不適切な例

  (3). イオナイザーの効果が期待できない例(1)

  (4). イオナイザーの効果が期待できない例(2)

キーワード 静電気 摩擦帯電 誘導帯電 静電気放電 静電破壊 静電気保護回路 HBM耐性 イオナイザー
タグ 電気
受講料 一般 (1名):49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名):44,000円(税込)
会場
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