〜 LEDの測定と留意点、信頼性試験、寿命予測 〜
・LED固有の特性、信頼性、寿命についてわかりやすく解説する講座
・LEDの高信頼性を確保し、製品の高品質・長寿命を実現するための技術が学べる特別講座！
ＬＥＤの故障事例と寿命予測・標準規格および信頼性向上への活かし方
講師の言葉
現在ＬＥＤの用途としてはＬＥＤ照明器具をはじめあらゆるところで使用されています。本セミナーにおいてはＬＥＤ固有の特性及び信頼性、寿命についてわかりやすく解説いたします。
特に照明においては半導体であるＬＥＤを採用している為、故障及び寿命の評価方法が従来光源と異なります。ＬＥＤ及びＬＥＤモジュールを主体とし、主に試験方法及び標準化されてきた規格関連を重点に説明します。
セミナー詳細
| 開催日時 |
|
|---|---|
| 開催場所 | 日本テクノセンター研修室 |
| カテゴリー | 電気・機械・メカトロ・設備 |
| 受講対象者 | ・LEDを使用するユーザーの方で、その寿命予測・信頼性向上に関心のある方 ・LEDの開発、設計等に関わる方 ・LED用材料の研究開発に関わる方 ・今後、LEDの採用を検討されている方 |
| 予備知識 | ・実務でLEDに関わっていると深く理解できます |
| 修得知識 | ・LEDの基礎 ・LEDの測定方法 ・LEDの具体的故障例 ・LEDの寿命試験と寿命予測技術 ・LEDにおける寿命評価標準化の最新動向 |
| プログラム |
１．ＬＥＤの基礎と測定方法および信頼性確保
（１）. ＬＥＤとは
・歴史、発光原理、発光色、基本特性、パッケージと実装方法、蛍光体
（２）. ＬＥＤの測定とは
・電気的な測定、光の測定、ＬＥＤの測定項目
（３）. ＬＥＤテスターとは
a. 光特性の測定（光量の測定）
b. 光度測定（ＣＩＥ１２７）
c. 全光束測定機材
d. 光特性の測定（波長特性）
e. 光測定の精度について
f. ＬＥＤ照明器具の測定
（４）. 信頼性を確保する為の測定（ＬＥＤモジュール等）
a. ＬＥＤの故障・劣化・不良とは（一般的なＬＥＤの故障・劣化・不良）
b. 静電気による劣化測定・耐静電気測定（リーク測定）
c. サイリスター特性測定
d. 熱抵抗測定
（５）. 信頼性試験（エージング、シーズニング）
a. 必要性
b. 信頼性を高め、品質を確保する手法
c. 信頼性とは
d. LEDの故障と劣化要因
e. LEDの故障、劣化の例
２．ＬＥＤの寿命予測と規格
（１）. LEDの寿命評価に関する標準化の動き
（２）. LED寿命の定義
（３）. 米国IES規格LM-79ｰ08、LM-85-14、LM-80-08、LM-80-15
（４）. LM-79-08の概要
（５）. LM-80-08の概要
（６）. 寿命予測（TM-21-11で予測されるＬ70予測法）
（７）. 照明全体での要求事項（Energy_Star資料）
（８）. LED光源の寿命予測方法(TM-21-11)
（９）. 新規格LM-85-14主な変更点
（１０）. 新規格LM-80-15
（１１）. 信頼性用語解説
（１２）. 信頼性関連の規格
３．光の測定項目原理
（１）. 光の測定項目原理（概要）
（２）. 演色性(Cplor rending Properties)の評価
（３）. 新ＩＥＳ規格の動向(TM-30-15)
４．測定における留意点（コンタクト関連）
（１）. ４線式接続（Kelvinコンタクト）
（２）. コンタクト
（３）. コンタクト状態の確認方法 |
| キーワード | ＬＥＤ ＬＥＤパッケージ ＬＥＤテスター エージング シーズニング LED寿命 |
| タグ | 寿命予測、信頼性試験・故障解析、LED・有機EL・照明 |
| 受講料 |
一般 (1名)：49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名)：44,000円(税込) |
| 会場 |
日本テクノセンター研修室〒 163-0722 東京都新宿区西新宿２－７－１ 新宿第一生命ビルディング（２２階）- JR「新宿駅」西口から徒歩10分 - 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分 - 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分 電話番号 : 03-5322-5888 FAX : 03-5322-5666 |
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