電子部品・電子機器の故障原因究明・信頼性作り込みのための評価・解析技術とそのポイント

〜 原因究明のための故障メカニズム・故障解析と、信頼性の作り込みのための解析技術 〜

  • 故障解析についての進め方と活かし方を、事例を交えて解説する講座!
  • 故障のメカニズムを理解し、原因究明を正しく行うことで、適切な評価・試験を行い、市場トラブル未然防止に活かそう!

講師の言葉

 講師企業では長期に亘り、信頼性評価の受託サービスを行っているが、近年、信頼性の重要度が高まっていることを実感している。このため、多くの企業がこの分野に参入してきたが、故障原因の究明や信頼性の作り込みに苦慮している実態が見受けられる。

 我々は信頼性の基礎が“故障メカニズム”にあると考え、故障メカニズムを理解することが、信頼性の早期理解に繋がると考えている。すなわち、信頼性は故障を無くすことであり、故障メカニズムに沿った信頼性評価・試験、故障メカニズムを解明するための故障解析が広義の信頼性である。

 本セミナーではこのような考えに基づき、故障メカニズム、実践的な信頼性評価、信頼性試験・環境試験の課題、および電子機器市場故障に関する解析に関し、説明し、信頼性評価に関する知識と応用力を修得してもらうことを目的とする。

セミナー詳細

開催日時
  • 2017年11月22日(水) 10:30 ~ 17:30
開催場所 日本テクノセンター研修室
カテゴリー 電気・機械・メカトロ・設備
受講対象者 ・電子部品、電子機器、電装品、半導体関連の技術者、品質管理、信頼性担当者
予備知識 ・信頼性に関する初歩的な知識
修得知識 ・現在広く行われている評価法を説明し、現実的な評価を修得してもらう
プログラム

1.信頼性評価技術の概要

  (1).信頼性に対する期待と要望

  (2).信頼性評価法の構成

  (3).電子機器開発・製造における信頼性の作り込み

    a.部品選定

    b.実装法の解析

    c.製品保証

2.故障メカニズム

  (1).電子部品の故障メカニズム

    a.受動部品

    b.LSI(WP:ウェハ・プロセス)

    c.LSI(AP:アッセンブリ・プロセス)

    d.実装基板

  (2). 電子機器の故障メカニズム

    a.広く発生する故障メカニズム

    b.電子機器に与えるストレス

3.主な信頼性評価

  (1).良品解析(作り込み品質を構造観察で評価)※1

  (2).電気的破壊に関する試験(ESDなど)と対策

  (3).電磁波ノイズに対する試験(EMC)と対策

  (4).信頼性試験、環境試験

4.電子機器の故障解析※2

  (1).故障解析とは

  (2).故障解析フロー

  (3).解析ツール

  (4).ロックイン赤外線発熱解析(LIT:実装基板レベルの故障箇所特定)

  (5).解析事例

※1『良品解析』:部品の状態や欠陥の観察から、将来故障に至る危険性を推定する。その結果は、工程改良への反映にも応用される。

※2『故障解析』:市場や実装工程で生じた部品の故障状況を把握し、電気特性の測定や様々な観察・解析をする事により故障原因の究明を行う。

キーワード 故障解析 良品解析 解析ツール LTI 電磁波ノイズ EMC ESD 受動部品 信頼性試験
タグ 信頼性試験・故障解析回路設計実装電子部品
受講料 一般 (1名):49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名):44,000円(税込)
会場
日本テクノセンター研修室
〒 163-0722 東京都新宿区西新宿2-7-1 新宿第一生命ビルディング(22階)
- JR「新宿駅」西口から徒歩10分
- 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分
- 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分
電話番号 : 03-5322-5888
FAX : 03-5322-5666
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