LED照明の劣化メカニズムと加速試験・寿命推定法および市場クレームの発生原因と対策

〜ＬＥＤチップの特性、ＬＥＤ照明の設計ガイドライン、劣化要因と寿命推定〜

・LEDの特性、劣化原因、加速試験、寿命推定、市場クレーム対策まで一日で学べる講座

・ＬＥＤ照明の寿命推定、市場クレーム対策を学び、製品の高信頼性を実現するための特別講座！

＊当日は、書籍「ＬＥＤ照明信頼性ハンドブック」をお配りいたします

講師の言葉

　１９６０年に赤色ＬＥＤが商品化され、１９９６年に白色ＬＥＤが開発されました。１９８２年からＬＥＤデバイス設計に携わってきた私にとって、この魅力ある電子部品から離れる事が出来ず今日に至っています。
　ＬＥＤは、台湾、中国を含む多くの国に生産拠点が移っていますがその性能品質改善に先頭を切って進めているのは、我が国です。
　今回の講演では、ＬＥＤチップだけでなく、ＬＥＤデバイスを構成する反射ケース用樹脂、封止樹脂、リードフレームとその鍍金技術等、日本独自の技術がまだまだ生かせる余地がある事を理解して頂き、参加者のメーカーの枠を超えた共創の精神で日本発のＬＥＤ頭脳集団を再構築したいと考えております。

セミナー詳細

開催日時	2017年02月21日(火) 10:30 ～ 17:30
開催場所	日本テクノセンター研修室
カテゴリー	電気・機械・メカトロ・設備
受講対象者	・ＬＥＤデバイス設計者・照明メーカー技術者・樹脂材料メーカー技術者・リードフレームメーカー技術者・ＬＥＤ照明への投資家
予備知識	・初心者は、ＪＬＥＤＳホームページ　http://www.led.or.jp/kids/kids_top.htm ・中級者は、ＬＥＤ照明ハンドブック　http://www.led.or.jp/publication/handbook.htm ・上級者は、ＬＥＤ照明信頼性ハンドブック　http://www.led.or.jp/publication/reliable.htm をご覧頂ければと思います。
修得知識	・ＬＥＤデバイス設計、照明用ＬＥＤモジュール設計の基本技術が身に付きます
プログラム	１．ＬＥＤの歴史　　（１）. 必要は、発明の母　　（２）. 照明の移り変わり　　（３）. ＪＬＥＤＳの発足の歴史　　（４）. 特許抵触は、絶対に避けるべき２．ＬＥＤチップの種類　　（１）. ＧａＰ　　（２）. ＧａＡｌＡｓ　　（３）. ＡｌＩｎＧａＰ　　（４）. ＧａＮ　　　　　　a. ワイヤータイプ　　　　　　b. 上下電極タイプ　　　　　　c. Ｓｉ及びＭｅ貼り付けタイプ３．ＬＥＤチップの特性　　（１）. チップ種類による差異　　（２）. ＩＦ−ＶＦ特性　　（３）. 温度特性４．ＬＥＤ照明の設計ガイドライン　　（１）. ＬＥＤ照明の設計　　　　　　a. 液晶バックライトの種類　　　　　　b. 照明の種類　　（２）. 回路設計　　（３）. 安全設計５．応用分野から見る今後の展開　　（１）. 屋外での使用　　（２）. 移動体用　　（３）. サイン＆ディスプレイ６．ＬＥＤの特徴　　（１）. 従来照明との違い　　（２）. 寿命を決める要因　　（３）. ＬＥＤ照明に求められる品質７．ＬＥＤ照明の寿命　　（１）. パッケージの劣化　　　　　　a. リフレクター　　　　　　b. 封止樹脂の変色　　　　　　c. Ａｇ鍍金フレームの硫化　　（２）. その他構成部材の劣化８．白色ＬＥＤに使われる部材の解説　　（１）. 小型ＬＥＤ　　（２）. 大型ＬＥＤ９．劣化のメカニズム　　（１）. １次要因（環境から来るダメージ）　　（２）. ２次要因（ＬＥＤパッケージの内部ダメージ）　　（３）. ３次要因（使われ方から来るダメージ）１０．各部材の諸特性　　（１）. ＧａＮチップの種類と特徴　　（２）. 蛍光体の種類と特徴　　（３）. 封止樹脂の種類と特徴　　（４）. リードフレームの種類と特徴　　　　　　a. ベンディングタイプ　　　　　　b. マップタイプ　　（５）. 実装基板１１．寿命の推定方法　　（１）. 動作試験　　（２）. 加速試験の精度　　（３）. 故障予測１２．加速試験方法　　（１）. アレニウスモデル　　（２）. 温湿度加速試験　　（３）. 更なる加速試験１３．ジャンクション温度の測定とその効果　　（１）. ＰＮジャンクション温度が何故大切か　　（２）. 誰でもできるΔＶＦ測定方法１４．光学的劣化要因　　（１）. ＧａＮの光劣化　　（２）. 樹脂材料の劣化　　（３）. 金属表面の劣化　　（４）. 蛍光体の劣化１５．市場の７０％が抱える致命的な欠点　　（１）. 電極構造　　（２）. 太陽電池モード１６．市場で発生しているクレームとその原因と対策方法　　（１）. 古いＬＥＤ電球は、点いているか？　　（２）. 直管ＬＥＤは、点いているか？　　（３）. 古い高天井ＬＥＤは、健在か？１７．光の測定方法　　（１）. 光束　　（２）. 輝度　　（３）. 高度　　（４）. 照度　　（５）. パワー１８．ブルーライトは、有害か？　　（１）. 被視感度曲線　　（２）. パワーメータ１９．紫外ＬＥＤの将来性
キーワード	ＬＥＤリフレクター封止樹脂ＧａＮチップ蛍光体リードフレーム加速試験故障予測　アレニウスモデルジャンクション温度　ブルーライト　紫外ＬＥＤ
タグ	信頼性試験・故障解析、LED・有機EL・照明
受講料	一般 (1名)：51,700円(税込) 同時複数申込の場合(1名)：46,200円(税込)
会場	日本テクノセンター研修室〒 163-0722 東京都新宿区西新宿２－７－１　新宿第一生命ビルディング（２２階） - JR「新宿駅」西口から徒歩10分 - 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分 - 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分電話番号 : 03-5322-5888 FAX : 03-5322-5666

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