〜 故障の危険度調査と電子機器における使用期間の保証技術 〜
・実装基板の故障箇所を特定し、故障原因を確実に解明し、対策へ活かす技術が学べる講座
・実装基板の故障原因を解明し、電子機器・電子部品の信頼性向上を実現させるための特別講座！
信頼性作り込みのための実装基板の故障解析と信頼性試験技術
講師の言葉
安心安全社会の実現には実際に市場で発生する故障の原因を解明し、信頼性の作りこみにフィードバックし、それが問題なく、製造されているかを評価し、保証することが必須である。
しかしながら、これまで実装基板の故障を正しく解析する方法が十分でなかった。ロックイン発熱解析は実装基板の故障箇所を特定できるため、原因究明が一段と進むと考えられる。
本講座では電子機器メーカにおいて必要な故障解析と信頼性の作りこみに関して述べる。
セミナー詳細
| 開催日時 |
|
|---|---|
| 開催場所 | 日本テクノセンター研修室 |
| カテゴリー | 電気・機械・メカトロ・設備 |
| 受講対象者 | ・高信頼性が必要な電子機器メーカ、およびセットメーカ （電子機器および電子部品メーカの設計開発、信頼性保証・品質管理、資材・購買関連に関わる方や、電子材料の研究開発に携わる方） |
| 予備知識 | ・信頼性に関心があれば理解が深まります |
| 修得知識 | ・信頼性の作りこみに必要な評価技術と故障解析 |
| プログラム |
１． 市場における故障の要因 ２． 信頼性評価（故障の危険性調査） ３． 電子部品の故障メカニズムと故障解析方法 |
| キーワード | 信頼性評価 良品解析 実装基板 故障解析 ロックイン発熱解析 |
| タグ | 信頼性試験・故障解析、電子機器、電子部品 |
| 受講料 |
一般 (1名)：49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名)：44,000円(税込) |
| 会場 |
日本テクノセンター研修室〒 163-0722 東京都新宿区西新宿２－７－１ 新宿第一生命ビルディング（２２階）- JR「新宿駅」西口から徒歩10分 - 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分 - 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分 電話番号 : 03-5322-5888 FAX : 03-5322-5666 |
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