〜 Ｓｎウィスカの基礎と抑制機構、Ｓｎペストの評価方法 〜
・Pbフリー化当初から最大の懸念の一つであった錫（Ｓｎ）ウィスカの成長抑制技術を学ぶための講座
・ウィスカ問題の最近の事例、加速試験方法の現状、簡易・低コスト抑制技術をわかりやすく解説！
・長期低温保持した時、Snが崩壊する「Snペスト現象」についても詳解！
鉛フリーめっき／はんだにおける錫ウィスカの発生と抑制最新技術
講師の言葉
欧州RoHS指令による鉛規制が施行されて10年が経過する。今日では民生用途を中心に、大半の電子部品、電子機器においてPbフリーはんだ、Pbフリーめっきが採用されている。
しかし、Pbフリー化当初から懸念の一つであった錫（Sn）ウィスカの成長は、いまだ完全に防止できておらず、試験条件の加速性も確立していない。また、Sn合金を長期低温保持した時、Snが崩壊するSnペスト現象も発生の可能性が否定できない。これらの現象はPbフリー実装をRoHS対象外の高信頼機器に適用拡大する際、引続き懸念事項として残されるだろう。
本講演では、Snウィスカ現象とその抑制に関する基礎事項の修得を目的に、ウィスカ問題の背景と歴史、最近の事例、加速試験方法の現状などを紹介する。特に、室温放置で発生するウィスカの発生・抑制機構の解明と、簡易・低コスト抑制技術としての基板材質の選定を紹介する。また、ウィスカ損傷解析に有用と考えられる解析手法について触れていく。さらにSnペスト現象を紹介し、電子機器に使用されるSn系材料の損傷問題を広がりのある視野で聴講戴けるように構成した。
セミナー詳細
| 開催日時 |
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|---|---|
| 開催場所 | 日本テクノセンター研修室 |
| カテゴリー | 電気・機械・メカトロ・設備 |
| 受講対象者 | ・民生機器、車載機器、宇宙航空、社会インフラなどのあらゆる電子部品・機器において、ウィスカ問題に取組む研究者や技術者を広く対象としています。 特にSnウィスカに関する基本的知識や、ウィスカの発生・抑制機構、Snペスト現象を深く学ぼうとする企業の技術者・研究者を意識した講演を行います。 さらに電子部品のウィスカ損傷を理解する上で有用となる機器分析手法などについても紹介し、その初歩を必要としている受講者にも役立つものと確信しています。 |
| 予備知識 | ・特に必要ございません |
| 修得知識 | ・Snウィスカの発生・成長に関する事例・基本的知識・発生および抑制の機構・対策手段の基礎およびウィスカの評価試験方法などに関する知識の修得を目指します |
| プログラム |
１. Snウィスカの基礎 ２. Snウィスカ発生・抑制の最新技術 ３．Snペスト現象 ４. 解析補足とまとめ |
| キーワード | Snウィスカ 鉛フリーはんだ コンフォーマルコーティング Sn-Cuめっき Snペスト 電子機器 実装基板 膜応力 |
| タグ | はんだ、表面処理・めっき、電子機器 |
| 受講料 |
一般 (1名)：49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名)：44,000円(税込) |
| 会場 |
日本テクノセンター研修室〒 163-0722 東京都新宿区西新宿２－７－１ 新宿第一生命ビルディング（２２階）- JR「新宿駅」西口から徒歩10分 - 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分 - 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分 電話番号 : 03-5322-5888 FAX : 03-5322-5666 |
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