〜 LEDの寿命予測と品質の確保、測定における問題点と解決方法 〜
・従来光源とは異なるLEDの故障、寿命の評価方法について基礎からわかりやすく解説する講座
・LEDの特性と故障メカニズム、寿命予測手法をマスターし、機器の信頼性を向上させよう!
〜 LEDの寿命予測と品質の確保、測定における問題点と解決方法 〜
・従来光源とは異なるLEDの故障、寿命の評価方法について基礎からわかりやすく解説する講座
・LEDの特性と故障メカニズム、寿命予測手法をマスターし、機器の信頼性を向上させよう!
現在LEDの用途としてはLED照明器具をはじめあらゆるところで使用されています。本セミナーにおいてはLED固有の特性及び信頼性、寿命についてわかりやすく解説いたします。
特に照明においては半導体であるLEDを採用している為、故障及び寿命の評価方法が従来光源と異なります。
LED及びLEDモジュールを主体とし、主に試験方法及び標準化されてきた規格関連を重点に説明します。
開催日時 |
|
---|---|
開催場所 | 日本テクノセンター研修室 |
カテゴリー | 電気・機械・メカトロ・設備 |
受講対象者 | ・LEDを使用するユーザーの方で、その寿命予測・信頼性向上に関心のある方 ・LEDの開発、設計等に関わる方 ・LED用材料の研究開発に関わる方 ・今後、LEDの採用を検討されている方 |
予備知識 | ・実務でLEDに関わっていると深く理解できます |
修得知識 | ・LEDの基礎 ・LEDの測定方法 ・LEDの具体的故障例 ・LEDの寿命試験と寿命予測技術 ・LEDにおける寿命評価標準化の最新動向 |
プログラム |
1.LEDの基礎と測定方法
2.LEDの寿命予測と規格及び測定における留意点 |
キーワード | LED サイリスタ特性 LEDモジュール Energy Star |
タグ | 光学、LED・有機EL・照明 |
受講料 |
一般 (1名):49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名):44,000円(税込) |
会場 |
日本テクノセンター研修室〒 163-0722 東京都新宿区西新宿2-7-1 新宿第一生命ビルディング(22階)- JR「新宿駅」西口から徒歩10分 - 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分 - 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分 電話番号 : 03-5322-5888 FAX : 03-5322-5666 |
こちらのセミナーは受付を終了しました。
次回開催のお知らせや、類似セミナーに関する情報を希望される方は、以下よりお問合せ下さい。
営業時間 月~金:9:00~17:00 / 定休日:土日・祝日