〜 製品不具合と信頼性要因 ・ライフエンド要因 、寿命試験・ライフエンド試験と評価法の活かし方、信頼性・安全性を左右する信頼性データの作成と活用法 〜
製品寿命をあらかじめ予測し、開発・設計に活かすための講座
製品の寿命試験・ライフエンド試験と評価法のポイントを修得し、安全で信頼性の高い製品の開発・設計に活かそう！
電子・電気機器の寿命試験・ライフエンド試験と評価および信頼性・安全性設計への活かし方
講師の言葉
市場で発生している不具合に信頼性的欠陥やライフエンド問題が見受けられる。
新製品は軽薄短小、密閉化、多機能化、環境規制対策、コストダウン部材の採用、あるいは新技術の導入と変化するが、物の壊れ方は変わらないので培われた故障物理の情報を如何に設計に活かすかということになる。
またライフエンド事故は安全性の問題と考えられがちだが劣化が絡む問題が多いので信頼性と安全性を一体化して考える必要がある。
本講座では物の壊れ方について把握し、寿命試験やライフエンド試験・評価の実施、そこで得られる情報を開発・設計に活かす方法について説明する。
セミナー詳細
| 開催日時 |
|
|---|---|
| 開催場所 | 日本テクノセンター研修室 |
| カテゴリー | 電気・機械・メカトロ・設備 |
| 受講対象者 | ・電子・電気機器開発関連の技術者、品質担当者 ・新製品開発設計の信頼性向上に取り組んでおられる方 ・信頼性データの整備をされている方 ・ライフエンド事故対策を担当されている方 ・開発段階での評価方法を必要としている部門 ・故障を生じず、生じても延焼させない製品の構造、開発設計部門 |
| 予備知識 | ・特に必要としません基礎からわかりやすく解説します |
| 修得知識 | ・寿命・ライフエンド事故の実態について ・寿命試験やライフエンド試験と評価法のポイント ・信頼性試験における故障のストレス要因と事例 ・信頼性、安全性を確保した製品つくりのためのデータ活用と留意点 |
| プログラム |
１．新製品の信頼性保証 ２．信頼性試験・評価と事例 ３．評価に必要な壊れ方から考える信頼性試験 ４．ライフエンド事故の実態 ５．知っておかねばならないライフエンドの評価と試験 ６．信頼性・安全性を左右するデータ作成と活用法 ７．まとめと質疑応答 |
| キーワード | 製品不具合 故障のストレス要因 加速試験 ライフエンド事故 信頼性データ 信頼性試験 |
| タグ | イメージセンサ、スマートフォン、センサ、プリント基板、リチウムイオン電池、ワイヤレス給電、電子機器、電装品、非接触充電 |
| 受講料 |
一般 (1名)：49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名)：44,000円(税込) |
| 会場 |
日本テクノセンター研修室〒 163-0722 東京都新宿区西新宿２－７－１ 新宿第一生命ビルディング（２２階）- JR「新宿駅」西口から徒歩10分 - 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分 - 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分 電話番号 : 03-5322-5888 FAX : 03-5322-5666 |
こちらのセミナーは受付を終了しました。
次回開催のお知らせや、類似セミナーに関する情報を希望される方は、以下よりお問合せ下さい。
各種お問い合わせは、お電話でも受け付けております。
03-5322-5888
営業時間 月~金：9:00～17:00 / 定休日：土日・祝日