〜 FTIR・SEMの原理、測定時の留意点、分析事例、前処理方法のポイント 〜
- 異物分析でよく使われるFTIRとSEMの原理から事例を通して、分かりやすく解説する講座！
- 赤外スペクトルの見方、測定法、元素分析、前処理などのポイントを学び、材料・部品・製品の適切な解析・分析に活かそう！
FTIR・SEMによる異物分析の基礎と分析・解析のポイント
講師の言葉
（第１部）
有機分析といえばまずFTIRと言われるほど、FTIRは有機分析に欠かせない最も代表的な装置です。
本セミナーでは、基礎編としてFTIRの原理や装置構成、スペクトルの読み方、測定法について説明します。また実践編として、樹脂中の添加剤、食品包装材、基板上の異物の分析例や前処理方法をご紹介します。
（第２部）
異物分析においては、その解析のために様々な分析装置が用いられています。このうち走査電子顕微鏡は試料の観察を行う装置として広く普及しております。走査電子顕微鏡は試料の表面形状や組成の情報などを得ることができるため、金属材料や電機・電子材料のみならず、セラミックス、食品、生物材料等に用いられています。最近では装置の高性能化により空間分解能が向上し、ナノスケールでの観察も可能となりました。また、表面形状のみでなく各種の付属装置を用いて組成分析（X線分光器：Energy Dispersive X−ray Spectrometer EDS等）や結晶構造解析（後方散乱電子線回折：Electron Backscattered Diffraction；EBSD等）も行われております。
本セミナーでは、初めに走査電子顕微鏡、またX線分光器等の原理、構造を説明した後に、様々な材料での異物分析例、またこれらのサンプリング手法について紹介します。
セミナー詳細
| 開催日時 |
|
|---|---|
| 開催場所 | 日本テクノセンター研修室 |
| カテゴリー | 化学・環境・異物対策 |
| 受講対象者 | ・これからIRを使う予定がある方、現在IRを使っている方 ・様々な材料の品質管理、選定、調査等を行っている方 ・有機、無機材料等の観察、表面分析、破断解析等をされている方 |
| 予備知識 | 高卒程度の「化学知識」 |
| 修得知識 | ・IRの原理、スペクトルの読み方など、分析に必要な基本的な知識を習得できる ・走査電子顕微鏡の原理を習得し、その機能を最大限に引き出すことができるようになります ・良い結果を得るための、試料作製の基本的な手法を理解できます |
| プログラム |
第１部
１． 基礎編
(1). FTIRの原理
２． 実践編
３． 質疑応答
第２部
１． 走査電子顕微鏡の原理
２． 走査電子顕微鏡で得られる情報
(1). 電子と物質との相互作用
３． 走査電子顕微鏡を用いた元素分析(EDS)
(1). X線の発生
４． 試料の前処理
５． 質疑応答・分析相談 |
| キーワード | FTIR 赤外スペクトル 透過法 反射法 ATR法 前処理 走査電子顕微鏡 元素分析 破面 サンプリング |
| タグ | 分析、高分子、破面解析 |
| 受講料 |
一般 (1名)：49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名)：44,000円(税込) |
| 会場 |
日本テクノセンター研修室〒 163-0722 東京都新宿区西新宿２－７－１ 新宿第一生命ビルディング（２２階）- JR「新宿駅」西口から徒歩10分 - 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分 - 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分 電話番号 : 03-5322-5888 FAX : 03-5322-5666 |
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