〜電子分光・振動分光・イオンを用いた分析・回折法・顕微鏡を用いた解析と活用法〜
・表面および表面・界面の特性評価について総括的な知識を得て、研究開発へと活かすための講座
・新物質・新素材の表面、界面を適切な方法で分析し、材料・デバイス開発へ活かすための特別講座！
表面解析の基礎と最適な分析方法の選び方および活用法
講師の言葉
近年、環境、エネルギー、省資源、情報等の研究・開発分野に注目が集まっている。これ等の分野に革新的ブレークスルーをもたらすものとして、新物質・新素材への期待が高まっている。
これらの研究には種々の機器分析手法が日常的に用いられている。しかし、研究の現場では、ともすると専門が細分化され、広範な機器分析手法から最適な手法を選択して駆使するのに困難を感じることもあろう。
本講義では表面解析および表面・界面の特性評価について断片的な知識ではなく、総括的な理解が得られように基礎に立ち返って講義を進める。また、最近のこの分野の進歩も取り入れながら、実試料への応用を念頭に置いて広範な知識が得られるように配慮して講義を行う。
セミナー詳細
| 開催日時 |
|
|---|---|
| 開催場所 | 日本テクノセンター研修室 |
| カテゴリー | 化学・環境・異物対策 |
| 受講対象者 | ・これから表面分析、表面解析の分野に取り組もうとする方 ・従来の研究手法に行き詰まりを感じる方 ・表面科学の基本的な素養を身につけたい方 |
| 予備知識 | ・基礎から丁寧に説明するので予備知識は特に必要としないが、大学卒業程度の知識があれば理解が容易となる |
| 修得知識 | ・表面分析・表面解析について統一した視点からの理解を深めることができる ・電子分光法、振動分光法、イオンを用いた分析法、回折法、顕微鏡法における各手法の原理を特徴を基礎から理解できる ・各手法の原理と特徴を理解した上で、新物質、新素材の分析時に最適な手法を選択と活用ができるようになる |
| プログラム |
１. 概論 ２． 物質・表面・試料 ３．各論 ４．総括 ※各項目において応用についてもお話します |
| キーワード | 表面解析 機器分析 電子軌道、 電子状態 仕事関数 プラズマ振動等、試料 単結晶 実試料 プラズマ振動 バンド構造 子軌道 電子分光法 光電子分光法 オージェ電子分光法 振動分光法 赤外分光法 ラマン分光法 イオン散乱分光法 SIMS 二次イオン質量分析法 回折法 X線回折法 電子線回折法 顕微鏡法 投影型顕微鏡 走査型顕微鏡 走査プローブ顕微鏡 ＳＴＭ ＡＦＭ 量子化学計算 量子力学 ハートリー・フォック法 密度汎関数法 |
| タグ | 表面改質、表面処理・めっき |
| 受講料 |
一般 (1名)：49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名)：44,000円(税込) |
| 会場 |
日本テクノセンター研修室〒 163-0722 東京都新宿区西新宿２－７－１ 新宿第一生命ビルディング（２２階）- JR「新宿駅」西口から徒歩10分 - 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分 - 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分 電話番号 : 03-5322-5888 FAX : 03-5322-5666 |
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