粉粒体の物性評価・測定技術の基礎とその活用法 〜デモ付〜

〜粒子径・粒子形状・分散性・比表面積・細孔径分布の評価と研究開発・品質管理への活用法、実機による粒子径分布測定デモ〜

  • 実機を使用した粒子径分布測定の測定デモ付き講座!
  • 粉粒体の物性評価として代表的な評価項目を理解し、分散・安定性の評価、適切な粉体操作、表面分析、新製品・材料開発、品質管理などに活かそう!

講師の言葉

 粉流体を扱う業種は工業、医療、製薬、食品、など様々な業種が対象となる。粉体の物性評価により、研究開発から、製造工程、品質管理にて、物性を管理することが、製品の性能を左右するため、重要な評価項目である。
 本講義では、粉粒体の物性評価技術の説明と実際のアプリケーション例を紹介し、さらに実機を使用した粒子径分布測定装置による実習を体験し、講義内容について理解を深めることが可能である。

セミナー詳細

開催日時
  • 2015年11月10日(火) 10:30 ~ 17:30
開催場所 日本テクノセンター研修室
カテゴリー 化学・環境・異物対策
受講対象者 ・粉粒体を扱う職業で、研究、製造、品質管理、分析を担当されており、基礎から粉粒体物性評価について学びたい方 ・化学、電子部品材料、電池、印刷、高分子、触媒、医薬品、化粧品、食品などの企業の方
予備知識 特に必要ございません
修得知識 ・物性評価手法の概要知識、装置の原理、測定結果の考察力
プログラム

1. 粉粒体物性評価の基礎
  (1). ものづくりと粉粒体物性評価の関係
  (2). 粒子径分布の表記方法
  (3). 粉粒体の代表粒子径と表現
  (4). 各粉粒体物性評価装置の概略と特徴

2. 粒子径分布測定の評価と応用
  (1). レーザ回折・散乱法による測定技術
  (2). 動的光散乱法による測定技術
  (3). 画像解析法による測定技術

3. 比表面積・細孔径分布の測定の評価と応用
  (1). 比表面積測定技術
  (2). 細孔径分布測定

4. ゼータ電位の評価と応用
  (1). ゼータ電位測定の概要
  (2). 電気泳動法の特徴
  (3). 流動電位法の特徴
  (4). ゼータ電位と粒子径分布の関係

5. アプリケーションの紹介
  (1). 測定結果の考察
  (2). 研究開発への活用
  (3). 品質向上への活用
 ※ここの「アプリケーション」は電子材料、化粧品、食品、電池材料、製剤などの粉粒体を指します

6. 物性評価測定における試料の前処理と留意点
  (1). 試料に適した分散媒
  (2). 測定に考慮する条件

7. 粉体物性評価実習
  (1). レーザ回折・散乱法による粒子径分布測定
  (2). 動的光散乱法による粒子径分布測定

キーワード 粒子径分布 レーザ回折 散乱法 画像解析法 比表面積 ゼータ電位 電気泳動法 流動電位法
タグ 創薬・医薬品結晶レオロジー分散粉体・微粒子電子部品
受講料 一般 (1名):49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名):44,000円(税込)
会場
日本テクノセンター研修室
〒 163-0722 東京都新宿区西新宿2-7-1 小田急第一生命ビル(22階)
- JR「新宿駅」西口から徒歩10分
- 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分
- 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分
電話番号 : 03-5322-5888
FAX : 03-5322-5666
こちらのセミナーは受付を終了しました。
次回開催のお知らせや、類似セミナーに関する情報を希望される方は、以下よりお問合せ下さい。
contact us contact us
各種お問い合わせは、お電話でも受け付けております。
03-5322-5888

営業時間 月~金:9:00~17:00 / 定休日:土日・祝日