〜粒子径・粒子形状・分散性・比表面積・細孔径分布の評価と研究開発・品質管理への活用法、実機による粒子径分布測定デモ〜
- 実機を使用した粒子径分布測定の測定デモ付き講座！
- 粉粒体の物性評価として代表的な評価項目を理解し、分散・安定性の評価、適切な粉体操作、表面分析、新製品・材料開発、品質管理などに活かそう！
粉粒体の物性評価・測定技術の基礎とその活用法 〜デモ付〜
講師の言葉
粉流体を扱う業種は工業、医療、製薬、食品、など様々な業種が対象となる。粉体の物性評価により、研究開発から、製造工程、品質管理にて、物性を管理することが、製品の性能を左右するため、重要な評価項目である。
本講義では、粉粒体の物性評価技術の説明と実際のアプリケーション例を紹介し、さらに実機を使用した粒子径分布測定装置による実習を体験し、講義内容について理解を深めることが可能である。
セミナー詳細
| 開催日時 |
|
|---|---|
| 開催場所 | 日本テクノセンター研修室 |
| カテゴリー | 化学・環境・異物対策 |
| 受講対象者 | ・粉粒体を扱う職業で、研究、製造、品質管理、分析を担当されており、基礎から粉粒体物性評価について学びたい方 ・化学、電子部品材料、電池、印刷、高分子、触媒、医薬品、化粧品、食品などの企業の方 |
| 予備知識 | 特に必要ございません |
| 修得知識 | ・物性評価手法の概要知識、装置の原理、測定結果の考察力 |
| プログラム |
１． 粉粒体物性評価の基礎
２． 粒子径分布測定の評価と応用
３． 比表面積・細孔径分布の測定の評価と応用
４． ゼータ電位の評価と応用
５． アプリケーションの紹介
６． 物性評価測定における試料の前処理と留意点
７． 粉体物性評価実習 |
| キーワード | 粒子径分布 レーザ回折 散乱法 画像解析法 比表面積 ゼータ電位 電気泳動法 流動電位法 |
| タグ | 創薬・医薬品結晶、レオロジー、分散、粉体・微粒子、電子部品 |
| 受講料 |
一般 (1名)：49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名)：44,000円(税込) |
| 会場 |
日本テクノセンター研修室〒 163-0722 東京都新宿区西新宿２－７－１ 新宿第一生命ビルディング（２２階）- JR「新宿駅」西口から徒歩10分 - 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分 - 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分 電話番号 : 03-5322-5888 FAX : 03-5322-5666 |
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