信頼性向上のためのパワーデバイスの基礎と課題解決

〜パワーデバイスの基本動作と実用化への問題点および対策〜 

・長年にわたり技術者としてパワーデバイスに携わってきた経験を基に解説する講座
・教科書的ではない、実務の中で培われたパワーデバイスの開発と課題解決策を詳解する特別講座!

講師の言葉

 講師は、1974年からの36年間をトランジスタの製造, 開発、トランジスタ モジュールの開発、IGBTとIGBT用の高速ダイオードの開発、さらにシミュレータを使った基本現象の解析と、一貫してパワーデバイスに現役技術者として携わってきた。
 自ら納得するまで考えることをモットーにする講演者が、その各時期で考えた経緯と各パワーデバイスに対する考えを紹介する。現在、定説になっているものもあれば、提案だけに止まっているものもある。教科書的に受け取るには問題があるかもしれないが、課題解決のアプローチの参考になると考える。
 講演者の職歴は、ちょうどパワーエレクトロニクスを飛躍的に発展させたBJTやGTOの自己遮断可能なパワーデバイスの誕生から、IGBTの発展、SiCデバイスの出現と実用化と重なる。

セミナー詳細

開催日時
  • 2015年04月14日(火) 10:30 ~ 17:30
開催場所
カテゴリー 電気・機械・メカトロ・設備
受講対象者 ・パワーデバイスの概要を俯瞰的に知りたい方。特に教科書的な文献の説明に納得できない方。
予備知識 ・pnダイオードとバイポーラトランジスタの動作を、何らかの書物を読まれると理解が深まります
修得知識 ・半導体デバイスの大まかな基本動作原理 ・各種パワーデバイスの概要
プログラム

1. パワーデバイスの進歩
  (1) . 遮断過程のないデバイス (ダイオード)
  (2) . 交流を制御可能なデバイス (サイリスタ)
  (3) . 直流を遮断可能なデバイス (トランジスタ、GTO)

2. 各デバイスの基本動作
  (1) . pinダイオード
  (2) . GTO、GCT
  (3) . Bipolarトランジスタ (BJT)
  (4) . IGBT
  (5) . ショトキー バリア ダイオード (SBD)
  (6) . 半導体デバイス動作の基本原理

3. 各デバイスの実用化を妨げた問題と対策
  (1) . プレーナ形デバイスの高電圧化、長期信頼性
  (2) . 安全動作領域 (高電圧で大電流を流す能力)
  (3) . IGBTの低オン電圧化 (+低スイッチング損失)
  (4) . ダイオードの高速化
  (5) . 宇宙線誘起破壊
  (6) . SiCにおけるVF劣化

4. 期待されているパワーデバイスとその問題点
  (1) . SiC (SBD、MOSFET、pinダイオード、 IGBT)
  (2) . GaN (SBD、HFET)
  (3) . ダイヤモンド (SBD、電界放出デバイス)

キーワード パワーデバイス ダイオード サイリスタ トランジスタ pinダイオード GTO GCT Bipolarトランジスタ (BJT) IGBT ショトキー バリア ダイオード (SBD) プレーナ形デバイス 安全動作領域 IGBT 宇宙線誘起破壊 SiC VF劣化 SiC SBD, MOSFET GaN  SBD HFET ダイヤモンド SBD 電界放出デバイス
タグ パワーデバイス電子機器電子部品電装品
受講料 一般 (1名):50,600円(税込)
同時複数申込の場合(1名):45,100円(税込)
会場
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