〜 FT-IRの原理、スペクトル解析法、顕微FT-IR、SEMの原理、元素分析法、試料の前処理技術 〜
- 分析手法として幅広く使われるFT-IRとSEMを使いこなすためのポイントを紹介する講座！
- 各手法の原理から特徴を理解することで、効率的に分析を行い、不良原因究明や品質管理などに活かそう！
FT-IR・SEMによる異物分析の基礎と分析・解析手法のコツ
講師の言葉
（第１部）
赤外分光法は分子構造を知ることができる手法として非常に幅広く利用されています。本セミナーでは、異物分析に必要不可欠な顕微IRも含めた各種測定手法の紹介や、意外と盲点である前処理のコツ・質の高いスペクトルを得るためのノウハウやデータ解析方法を解説します。また、赤外分光法の原理等の基本的事項の説明も行います。
（第２部）
走査電子顕微鏡は観察を行うツールとして広く普及しております。試料観察を行うことはもちろんのこと、試料上の任意の位置に存在する元素を検出できること等様々な特長があります。
本セミナーでは、材料解析に役立つ走査電子顕微鏡の原理、構造を理解することにより、品質管理などに役立つ手法を紹介します。
セミナー詳細
| 開催日時 |
|
|---|---|
| 開催場所 | 日本テクノセンター研修室 |
| カテゴリー | 電気・機械・メカトロ・設備、化学・環境・異物対策 |
| 受講対象者 | ・FTIR・顕微IRを用いた分析の担当者、技術者 ・走査電子顕微鏡を利用されている技術者 ・異物測定、品質管理を行われている方 |
| 予備知識 | 基本的な事項から説明しますので、特に必要ありません |
| 修得知識 | （第１部） ・高分子化合物を中心とした有機化合物のスペクトル解析事例 ・異物測定に必要な前処理のノウハウ ・顕微鏡を利用した測定手法 （第２部） ・走査電子顕微鏡の使い分け ・試料観察に必要な前処理方法 ・元素分析と組み合わせた解析手法 |
| プログラム |
第１部 FTIRの基礎と異物分析のノウハウ （3時間程度）
１． 赤外分光法の基礎とスペクトルの解析法
(1). 赤外分光法の基礎 ２． FTIRの原理 ４． 顕微FTIR
第２部 SEM-EDSの基礎と分析・解析のポイント （3時間程度）
１． 走査電子顕微鏡の原理 ２． 走査電子顕微鏡で得られる情報 ３． 元素分析 ４． 試料の前処理 ５． 質疑応答・分析相談 |
| キーワード | 異物分析 FT-IR 走査電子顕微鏡 前処理 試料 元素分析 赤外分光 スペクトル |
| タグ | 分析、食品、金属、化粧品、高分子、品質管理 |
| 受講料 |
一般 (1名)：49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名)：44,000円(税込) |
| 会場 |
日本テクノセンター研修室〒 163-0722 東京都新宿区西新宿２－７－１ 新宿第一生命ビルディング（２２階）- JR「新宿駅」西口から徒歩10分 - 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分 - 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分 電話番号 : 03-5322-5888 FAX : 03-5322-5666 |
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