信頼性試験・加速試験データ解析の基礎と寿命予測への応用および実践のポイント ~演習付~ <オンラインセミナー>

~ Excelを活用したワイブル解析法、累積ハザード型ワイブル分布を用いた市場故障データの解析、加速試験結果を基にした耐用寿命推定、寿命目標をクリアする為の加速試験条件設定の仕方 ~

・加速試験の考え方とその結果を踏まえた市場での耐用寿命の推定法を修得し、市場トラブルを未然防止するための講座
・ワイブル解析による市場での寿命予測方法や少ない故障データを用いた市場故障数の予測の方法を修得し、信頼性の高い製品開発に活かそう!

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講師の言葉

 電子回路製品を小型・低コストで製造するために、微細加工・薄型化された部品や部材が製品に搭載されています。一方、微細加工や薄膜素材の積層などでパターン間や素材間の電界強度が大きくなるため市場でのトラブル増加が懸念されます。また、部品選定を誤ると大きなトラブルを引き起こす可能性があり、過去にはパソコンのマザーボードが使用1年程度で故障した短寿命問題や、テレビ・扇風機・洗濯機など信頼性・安全性に係わるトラブルが発生しています。これらのトラブルをなくすために設計段階からFMEAや製品の信頼性試験などを用いて不良ゼロを目指した活動がなされていますが、市場トラブルがゼロになっているわけではありません。
 そこで、本セミナーではトラブル撲滅の観点から信頼性試験データの解析方法を詳細に解説し、
 1.発売前に実施した加速試験のデータを用いてワイブル解析による市場での寿命予測の仕方
 特に寿命目標をクリアする為のサンプルサイズ、加速試験時間、加速条件の設定の仕方や
2.市場で故障した少ないデータを用いて累積ハザード解析による今後の市場故障数の予測の仕方
 を手法・解析ツールも併せて伝授します。

セミナー詳細

開催日時
  • 2025年12月10日(水) 10:30 ~ 17:30
開催場所 オンラインセミナー
カテゴリー オンラインセミナー電気・機械・メカトロ・設備品質・生産管理・ コスト・安全
受講対象者 ・電子回路の設計・開発・研究・製造・品質管理・検査などの業務に携わる技術者の方
・ワイブル解析や信頼性試験データの解析について基礎から修得したい方
予備知識 ・Excelの基本知識と統計の基礎知識
修得知識 ・信頼性の基礎知識を身につけて頂きます
・ワイブル分布に従う故障時間分布の基本を信頼性試験結果を基に解説し、理解して頂きます
 ①ワイブル分布の基礎(パラメータの理解)
 ②故障時間と故障の割合の関係とその分布の形
・市場故障データに対する解析の仕方(ワイブル型累積ハザードを用いて実践)を理解して頂きます
・加速試験の考え方とその結果を踏まえた市場での耐用寿命の推定法を理解して頂きます
・寿命目標をクリアする為の加速試験条件の設定の仕方
 ①サンプルサイズ
 ②試験時間
 ③試験条件 の関係を理解して頂けます
プログラム

1.信頼性の基礎知識
  (1).信頼性とは
  (2).信頼性に関わる基本用語
  (3).市場での故障数と故障率及び累積故障確率の分布
  (4).信頼性解析で用いる故障時間分布の種類

2.ワイブル分布を用いた信頼性試験データの解析
  (1).ワイブル分布とは
  (2).ワイブル解析に用いる累積故障確率F(t)の求め方
  (3).ワイブル確率紙を用いた解析法
  (4).Excelを活用したワイブル解析法
  (5).演習1:完全データに対するワイブル解析とパラメータ推定

3.累積ハザード型ワイブル分布を用いた市場故障データの解析
  (1).累積ハザード型ワイブル解析はどのような場合に行うのか
  (2).累積ハザード型ワイブル確率紙のX座標とY座標
  (3).累積ハザード型ワイブル解析の手順
  (4).演習2:不完全データに対するワイブル解析とパラメータ推定
  (5).累積ハザード関数を用いた市場故障データ解析の実際
  (6).演習3:市場故障データ解析を基に半年後、1年後の市場故障数を推定

4.加速試験結果を基にした耐用寿命推定の基礎
  (1).故障物理に基づく加速試験条件の設定法と試験結果に基づく寿命推定の仕方
  (2).温度に対する劣化を考慮した加速試験の仕方
  (3).市場使用温度での耐用寿命の推定の仕方
  (4).演習4:サウジアラビヤの温度環境に対する平均温度の推定と耐用寿命推定の実践

5.寿命目標をクリアする為の加速試験条件(サンプルサイズ、試験時間、試験温度など)の設定の仕方
  (1).故障が0個の時、ロットの不良の割合の推定法(信頼水準を考えて)
  (2).演習5
    a.目標寿命をクリアするための加速試験条件Ⅰ(サンプルサイズ)の設定
    b.目標寿命をクリアするための加速試験条件Ⅱ(加速試験時間)の設定
    c.目標寿命をクリアするための加速試験条件Ⅲ(加速試験温度)の設定

参考:
 1.JEITA_EDR-4708B規格のサンプルサイズと試験時間の解説
 2.故障が1個でた場合、寿命目標をクリアする為の加速試験条件(サンプルサイズ、試験時間など)の設定の仕方
 3.他の加速モデル式の紹介(温度と湿度を変化させた時)
 4.市場故障解析の事例紹介

キーワード 累積故障確率 故障時間分布 信頼性試験データ ワイブル分布 累積ハザード型ワイブル分布 市場故障データ パラメータ推定 加速試験 耐用寿命推定 サンプルサイズ
タグ 寿命予測信頼性試験・故障解析データ解析品質管理回路設計電子部品電装品LSI・半導体
受講料 一般 (1名):49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名):44,000円(税込)
会場
オンラインセミナー
本セミナーは、Web会議システムを使用したオンラインセミナーとして開催します。
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営業時間 月~金:9:00~17:00 / 定休日:土日・祝日