セミナー情報

微粉体製品におけるSEM・TEM画像解析手法の基礎と課題解決法 ~1人1台PC実習・個別相談付~

~画像計測・解析の自動化による作業効率と品質の向上~

・SEM・TEM画像解析をより効率的、効果的に実施することで微紛体製品の機能、品質の向上に役立つ講座
・多種多様な外観検査の実務経験に基づく実用的・実務的な画像解析手法の基礎を実習も交えて修得し、今後の解析業務に活かそう!

・「まだまだSEMやTEMで得られた画像を目視で計測・解析している!」
 「すでに画像計測・解析パッケージを活用しているが、期待する結果が得られていない!」
このような方に、現状の画像計測・解析に関わる問題や課題に関する個別相談も実施します。

※PCは弊社でご用意いたします

セミナー詳細

開催日時 2014年04月01日(火) 10:30 ~ 17:30
開催場所 【東京】日本テクノセンター研修室
カテゴリー 電気・機械・メカトロ・設備/化学・環境・異物対策/ソフト・データ解析・画像・デザイン
内容 ~画像計測・解析の自動化による作業効率と品質の向上~
■概要
・SEM・TEM画像解析をより効率的、効果的に実施することで微紛体製品の機能、品質の向上に役立つ講座
・多種多様な外観検査の実務経験に基づく実用的・実務的な画像解析手法の基礎を実習も交えて修得し、今後の解析業務に活かそう!

・「まだまだSEMやTEMで得られた画像を目視で計測・解析している!」
 「すでに画像計測・解析パッケージを活用しているが、期待する結果が得られていない!」
このような方に、現状の画像計測・解析に関わる問題や課題に関する個別相談も実施します。

※PCは弊社でご用意いたします

■タグ
ゲル・スラリー バイオ・遺伝子 ポリマー レアアース 画像 画像処理 画像認識 化粧品 高分子 材料 磁石・磁性材料 触媒 創薬・医薬品結晶 分析 粉体・微粒子

■日時
2014年 4月 1日(火)10:30~17:30       

■受講対象者
・これから業務(研究・開発・検査・分析)で画像解析を必要とされる方
・画像解析の改善について業務上、検討・決定・判断が必要なリーダ層の方
(電子材料・金属材料・バイオ・製薬・化粧品・食品その他関連企業の方)

■予備知識
・特に必要ありません

■事前準備
画像計測・解析に関してご相談のある受講者は、事前に問題や課題、お悩みの事柄を弊社までお送りください。対象となる画像ファイルをお送りいただいてもかまいません。

※当日初めてご相談いただいてもかまいませんが、事前にお知らせいただくことで、事前に調査、検討でき、より的確な回答が可能となります

■修得知識
・画像解析の基礎知識
 画像解析を行う上で重要な画像処理技術の基礎知識
  ・画像情報の変換:
   画像のコントラスト変換、ノイズ除去、ヒストグラム変換、二値化など
  ・特徴量の抽出:
   エッジ検出、円フィッティング、領域分割など
・画像処理技術をどのように組み合わせ、必要な情報・結果を導き出すのかの手法
・画像解析の自動化手法にどのようなものがあるか、およびそれらの特徴

■講師の言葉
 微紛体は、電気電子、自動車、半導体、環境・エネルギー等の各種基幹産業向けの基盤技術・素材として、熱的機能、光学機能、電気的機能、機械的機能等の付与、付加価値化を図るための重要な役割を担っているだけに高い品質要求を求められます。
 なかでも、金属粉末はその優れた導電特性から、電子デバイスの電極材料として応用されるなど、他素材では代替困難な需要を獲得していることから競争も激化しています。これらの要求に応えるために、SEMやTEMで撮像した粒子画像を計測・解析し製品の品質を確保する必要性がますます高まってきています。
  本セミナーでは、画像計測・解析を実施するのに必要な、画像処理技術の基礎的な知識(コントラスト変換・ノイズ除去・ヒストグラム変換・パターンマッチング・エッジ検出)を理解し、その画像処理技術を組み合わせてどのように画像を解析し目的の結果を導き出すのかを解説します。
  受講者の理解を深めるために、微紛体画像例を使ってパソコンによる実習も行います。また、各受講者の具体的な問題や課題を個別で伺い、その解決策の糸口を探索します

■プログラム
1. 研究・開発・検査・分析部門における画像解析自動化が進む背景
  (1). 今後も高まり続ける「高精度」「省力化、省時間化」「再現性の高さ」ニーズ
  (2). 人力ではできない解析を自動化によりカバー
  (3). 自動化できる範囲と性能、コストパフォーマンスの向上

2. 画像解析の基礎
  (1). 画像解析とは何か
     (画像解析に必要な基礎知識の習得:画像情報の変換、特徴量の抽出)
     a.画像のコントラスト変換、ノイズ除去、ヒストグラム変換、二値化など
     b.エッジ検出、円フィッティング、領域分割など
  (2). 画像解析の一般的な進め方
  (3). 微粒子画像を使った実習

3. 画像解析の自動化の効果
  (1). 実例を用いた画像解析の自動化と可視化
  (2). 自動化による評価尺度と判断方法

4. 現状の画像解析自動化における課題
  (1). 現状の汎用画像解析ソフトウェアとその課題
  (2). 課題への対応手法

5. まとめとQ&A

個別相談
  現状の画像計測・解析に関わる問題や課題の相談
  ※個別相談は別室にて個別に実施します。

■キーワード
SEM TEM 画像解析 コントラスト変換 ノイズ除去 ヒストグラム変換 二値化 パターンマッチング パターンマッチング エッジ検出 円フィッティング 領域分割

■受講料 (税込)
1名:49,680円
同時複数申し込みの場合1名:44,280円

■会場

日本テクノセンター研修室
住所: 東京都新宿区西新宿二丁目7-1 小田急第一生命ビル 22階
- JR「新宿駅」西口から徒歩10分
- 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分
- 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分
電話番号 : 03-5322-5888
FAX : 03-5322-5666

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カテゴリ:

電気・機械・メカトロ・設備成形・加工・接着接合・材料化学・環境・異物対策ソフト・データ・画像・デザイン品質・生産管理・コスト・安全研究開発・ビジネススキル

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